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EOS的过电压破坏

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  EOS是Electrical Over-Stress的缩写,意为过电压捣乱,是指过电压形成的热效应对电子元件的捣乱。寻常来说,正在静电不良说明的角度上来说最常睹到的即是「ESD」与「EOS」这两个名词,ESD指的是当ESDS Item正在蒙受到自己或其它外部形成之静电压场倏得由部分放电所变成的捣乱景象,而EOS则是指其它测试机台、临盆机台、仪器、治具等所形成之策画失当电压(流)、或是泄电流对组件所变成之捣乱景象称之;两者正在成因上有很大的差别,是以正在说明时亦可依照少少个性可看出少少眉目。最先是绝大大批的环境下EOS的电流均深远于ESD所形成的电流,且捣乱韶华上ESD众为数nS而EOS则可到数μS之久,是以正在成相说明上EOS的捣乱点众可睹到焦黑的景象,而ESD则众仅可睹泄电流产活门径之陈迹或浮泛罢了!

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